廊坊美博密封材料有限公司

　　本章将重点介绍密封件中主要零件尺寸和形状精度的检测以及密封的型式试验。

　　第1节密封件的检测

　　一、平面度的测量

　　按照JB4127-85《机械密封技术条件》规定：密封端面平面度不大于0.0009㎜，其表面必须光洁。随着材料的不同，表面粗糙度(Ra)应小于：

　　硬质合金0.01μm;硬碳0.3μm

　　碳化硅0.05μm;氧化铝0.35μm

　　特种铜合金0.2μm

　　之所以要求这样高的平面度，是为了保证端面的泄漏量在允许范围内。此外，减小表面粗糙度可使承载面积增加，从而增加机械密封的承载能力。密封端面平面度的检测，通常是利用光波的干涉效应来测量。可以用质量非常高的激光干涉仪或光学平晶来进行测量。前者属非接触量法，后者属接触量法。光学平晶货源充足，价格便宜，因而被广泛采用。

　　以下介绍用光学平晶检测平面度的基本原理。

　　1. 平面平晶。平晶是利用派利克斯玻璃、溶凝水晶或折光系数为1.516的光学玻璃制造，使之成为具有平直工作端面的透明圆柱体。按直径大小有60、80、100、150、200、250㎜六种。平晶由于制造较困难，其尺寸都不太大。它的精度为1级和2级两种;工作面的平面性很高，其偏差不超过0.03μm和0.1μm。通常采用1级平晶测量密封环端面的平面度，平晶的直径应大于被侧工件的外径。若密封环的外径超过250㎜，或者是非金属材料制作的密封环(反光度差)，可采用涂色法检查，即在被测表面涂以红丹，在零级平板上对研，环的接触痕迹必须连续，不能间断，接触连续面积大于总面积80%的为合格。